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Simulación del haz de electrones en un TEM como flujo de partículas cargadas

dc.creatorHernández-Valle, Alberto
dc.creatorValverde-Noguera, Vanessa
dc.creatorLópez-Gómez, Ignacio
dc.creatorChiné-Polito, Bruno
dc.creatorEsquivel-Isern, Ricardo
dc.creatorChaves-Noguera, Juan
dc.date2015-04-28
dc.date.accessioned2015-05-22T16:03:19Z
dc.date.available2015-05-22T16:03:19Z
dc.identifierhttp://revistas.tec.ac.cr/index.php/tec_marcha/article/view/2192
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2238/5919
dc.descriptionThe behavior of an electron beam in a TEM was simulated as a function of accelerating voltage, excitation current of the lenses and relative permeability of the pole pieces, by the software COMSOL Multiphysics version 4.2a. The results showed a low vertical speed of stray electrons, which were filtered by the diaphragms. Moreover, the plots displayed an increase in the magnetic flux density with the increase of the magnetic permeability of the pole pieces. Furthermore, the outcome indicated that a boost in the magnetic flux density increased the angle of divergent electrons and reduced their vertical speed. Finally, the observations illustrated that the number of electrons at the inlet does not affect the beam overall behavior nor the magnetic flux density magnitude. 
dc.descriptionSe simuló el comportamiento de un haz de electrones en un Microscopio Electrónico de Transmisión (TEM) en función del voltaje de aceleración, la corriente de excitación de las lentes y la permeabilidad relativa de las piezas polares, por medio del software COMSOL Multiphysics versión 4.2a. Los resultados mostraron una baja velocidad vertical en los electrones dispersos, los cuales fueron filtrados por los diafragmas. Además, los gráficos expusieron que la densidad del flujo magnético aumentó con el incremento en la permeabilidad magnética de las piezas polares. Además, un aumento en la densidad del flujo magnético incrementó el ángulo de los electrones divergentes y redujo su velocidad vertical. Finalmente, las observaciones demostraron que el número de electrones que entran en el sistema no afecta el comportamiento general del haz ni la magnitud de la densidad del flujo magnético. 
dc.formatapplication/pdf
dc.languagespa
dc.publisherEditorial Tecnológica de Costa Rica
dc.relationhttp://tecdigital.tec.ac.cr/servicios/ojs/index.php/tec_marcha/article/view/2192/1998
dc.rightsCopyright (c) 2015 Tecnología en Marcha
dc.sourceTecnología en Marcha; Vol. 28, Núm. 1 (2015); pág. 59-70
dc.source2215-3241
dc.source0379-3982
dc.subjectCondenser lens; objective lens; simulation; electron beam; pole pieces
dc.subjectLente condensador; lente objetivo; simulación; haz de electrones; piezas polares
dc.titleSimulation of the electron beam in a TEM as a charged particles flux
dc.titleSimulación del haz de electrones en un TEM como flujo de partículas cargadas
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/article
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.typeArtículo revisado por pares


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