Se desarrolló una metodología para la caracterización de detectores de centelleo con cristal de NaI (Tl) a partir de la simulación por Monte Carlo con el sistema Electron-Gamma-Shower vers.4. Se considera en la simulación la cubierta de Al del cristal y el blindaje protector del sistema de detección. Se reprodujo con precisión el espectro experimental, excepto para energías menores al pico de retrodispersión. Esta divergencia se explica por la no consideración de las dimensiones reales de la fuente y por ende de la dispersión de la radiación gamma en la misma.La metodología y el código desarrollado pueden ser utilizados para caracterizar detectores de otros materiales con un mínimo de cambios (por ejemplo, detectores de semiconductores).