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Rodríguez-Hall, Bernardo Emilio (1)
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Circuitos digitales (1)
Circuitos integrados (1)
Clocked scan (1)
Clocks (1)
Digital circuits (1)Diseño de escaneo (1)Evaluación del uso de cadenas de escaneo (1)Evaluation of the use of scan chains (1)Integrated circuits (1)Relojes (1)... másFecha2023 (1)

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Evaluación del uso de cadenas de escaneo basadas en latches pulsados y relojes autogenerados en el proceso de prueba de circuitos integrados digitales 

Rodríguez-Hall, Bernardo Emilio (Instituto Tecnológico de Costa Rica, 2023-02-14)
El tipo de prueba durante el desplazamiento de las cadenas de escaneo es por definición es destructiva. Esta consiste en que una vez el diseño se encuentre en un cierto estado funcional de interés y se quieran observar ...

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