ListarMaestría en Electrónica por palabras clave "Clocks"
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Evaluación del uso de cadenas de escaneo basadas en latches pulsados y relojes autogenerados en el proceso de prueba de circuitos integrados digitales
(Instituto Tecnológico de Costa Rica, 2023-02-14)El tipo de prueba durante el desplazamiento de las cadenas de escaneo es por definición es destructiva. Esta consiste en que una vez el diseño se encuentre en un cierto estado funcional de interés y se quieran observar ...