Mostrar el registro sencillo del ítem

dc.contributor.advisorChacón-Rodríguez, Alfonsoes
dc.contributor.authorPicado-García, Fabián Alberto
dc.date.accessioned2024-09-09T17:15:02Z
dc.date.available2024-09-09T17:15:02Z
dc.date.issued2022-06-22
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/2238/15259
dc.descriptionProyecto de Graduación (Licenciatura en Ingeniería Electrónica) Instituto Tecnológico de Costa Rica, Escuela de Ingeniería Electrónica, 2022es
dc.description.abstractActualmente la segunda versión del microcontrolador Siwa se encuentra en desarrollo, el cuál es un dispositivo que se ha elaborado completamente en la Escuela de Ingeniería Electrónica del Tecnológico de Costa Rica, como parte de las labores de profesores-investigadores asociados y los aportes de estudiantes. Como parte del flujo de desarrollo de circuitos integrados en general, es de suma importancia realizar revisiones periódicas al diseño, a fin de cuentas de evitar errores o posibles discrepancias entre la especificación funcional y el comportamiento observado del dispositivo bajo prueba (DUT). Para ello, en este proyecto se expone la metodología seguida para obtener una plataforma de pruebas o ambiente de verificación funcional que permita ejercitar el DUT. Tal camino inicia con la recolección de características claves del DUT, con el objetivo de formular un plan de pruebas. Una vez se obtuvo dicho plan de pruebas, se propuso una arquitectura de ambiente de verificación funcional acorde al estándar UVM. Finalmente, una vez concluido la conceptualización de la plataforma de pruebas, se muestran los resultados obtenidos, un breve análisis acorde a los errores obtenidos y las métricas de cobertura que generaron, a partir de la ejecución de cinco regresiones completas.es
dc.description.abstractCurrently the second version of the Siwa microcontroller is under development, which is a device that has been completely developed in the Escuela de Ingeniería Electrónica of the Tecnológico de Costa Rica, as part of the work of associated professors-researchers and the contributions of students. As part of the integrated circuit development flow in general, it is very important to carry out periodic revisions to the design, in order to avoid errors or possible discrepancies between the functional specification and the observed behavior of the Device Under Test (DUT). This project exposes the methodology followed to obtain a testing platform or functional verification environment that allows the DUT to be exercised. Such a path begins with the collection of key characteristics of the DUT, with the objective of formulating a test plan. Once the test plan was obtained, a functional verification environment architecture according to the UVM standard was proposed. Finally, once the conceptualization of the test platform has been completed, the results obtained are shown, as well as a brief analysis according to the errors obtained and the coverage metrics they generated, from the execution of five complete regressions.es
dc.language.isospaes
dc.publisherInstituto Tecnológico de Costa Ricaes
dc.rightsacceso abiertoes
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by/4.0/*
dc.subjectDiseño -- Ambiente de verificación funcionales
dc.subjectMetodología de Verificación Universal (UVM)es
dc.subjectMicrocontroladores Siwaes
dc.subjectCircuitos integrados digitaleses
dc.subjectUsos -- Interfaceses
dc.subjectDispositivos periféricoses
dc.subjectPlataforma -- Pruebases
dc.subjectDevice Under Test (DUT)es
dc.subjectDesign -- Functional verification environmentes
dc.subjectUniversal Verification Methodology (UVM)es
dc.subjectSiwa microcontrollerses
dc.subjectDigital integrated circuitses
dc.subjectUses – Interfaceses
dc.subjectPeripheral deviceses
dc.subjectPlatform -- Testinges
dc.subjectResearch Subject Categories::TECHNOLOGY::Electrical engineering, electronics and photonicses
dc.titleDiseño e implementación de un ambiente de verificación funcional con estándar UVM para segunda versión de microcontrolador Siwaes
dc.typetesis de licenciaturaes


Ficheros en el ítem

Thumbnail
Thumbnail

Este ítem aparece en la(s) siguiente(s) colección(ones)

Mostrar el registro sencillo del ítem

acceso abierto
Excepto si se señala otra cosa, la licencia del ítem se describe como acceso abierto