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dc.contributor.authorLeón-Aguilar, Alexanderes_CR
dc.date.accessioned2007-09-11T12:41:21Zes_CR
dc.date.accessioned2011-11-25T01:55:19Z
dc.date.available2007-09-11T12:41:21Zes_CR
dc.date.available2011-11-25T01:55:19Z
dc.date.issued2004es_CR
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/2238/165es_CR
dc.descriptionProyecto de Graduación (Licenciatura en Ingeniería Electrónica). Instituto Tecnológico de Costa Rica. Escuela de Ingeniería Electrónica, 2004.es_CR
dc.description.abstractEn el mundo de la electrónica, todos los circuitos integrados tienen que pasar por un proceso de pruebas paramétricas y funcionales antes de ser instalados y usados en un producto final. Estas pruebas son hechas en grandes sistemas electrónicos comparables a supercomputadoras. La empresa Teradyne es uno de los principales fabricantes de sistemas automáticos de pruebas a nivel mundial y desarrolló una familia de sistemas conocidos como A5. El sistema A575 cuenta con las tarjetas AD656 que son una parte importante del funcionamiento del lado analógica de dicho sistema y están compuestas en su gran mayoría por relés. El costo de reparación de estas tarjetas en el Centro de Reparación de Teradyne en Costa Rica es elevado debido a que no se contaba con una herramienta capaz de determinar con precisión cuáles relés estaban en mal estado. Con esta idea en mente se decidió crear un sistema de pruebas basado en los principios de la instrumentación virtual para lograr una plataforma amigable y fácil de entender como lo son las computadoras personales y herramientas productivas como LabVIEW para desarrollar un sistema accesible a cualquier persona relacionada con la tarea de reparación de las tarjetas AD656. Una vez estudiados los diagramas esquemáticos de la tarjeta AD656 se procedió a implementar o traducir el funcionamiento de la tarjeta en la plataforma de programación, tarea que fue definida según la lógica de las pruebas requeridas y que además puede ser modificada en caso de así desearlo. El sistema trabaja con una tarjeta de adquisición de datos y circuitería externa que ayuda a dirigir a las señales hacia una etapa de conversión analógica digital.es_CR
dc.description.sponsorshipTeradyne Inc. de Costa Rica.es_CR
dc.format.extent20748313 byteses_CR
dc.format.mimetypeapplication/pdfes_CR
dc.language.isoeses_CR
dc.publisherInstituto Tecnológico de Costa Rica. Escuela de Ingeniería Electrónica.es_CR
dc.subjectSistemas automáticoses_CR
dc.subjectPruebases_CR
dc.subjectInstrumentación virtuales_CR
dc.subjectLabviewes_CR
dc.subjectTarjetases_CR
dc.subjectAdquisición de datoses_CR
dc.subjectTeradynees_CR
dc.subjectELECes_CR
dc.titleDiseño y construcción de un probador para la tarjeta AD-656 de los sistemas A575 de Teradyne.es_CR
dc.typetesis de licenciaturaes_CR


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