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dc.contributor.authorEspinoza-Murillo, Marco
dc.date.accessioned2012-03-14T21:10:35Z
dc.date.available2012-03-14T21:10:35Z
dc.date.issued2010
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/2238/2586
dc.descriptionProyecto de Graduación (Licenciatura en Ingeniería Electrónica) Instituto Tecnológico de Costa Rica, Escuela de Ingeniería Electrónica, 2010.es_CR
dc.description.abstractEl costo de manufactura de los productos de Intel depende de muchas variables tal como el tiempo total que un producto toma completando su programa de prueba (tiempo de prueba). Este proyecto consiste en realizar una herramienta que se encargue de optimizar el tiempo de ejecución de las pruebas actuales sin impactar la cobertura de las mismas y genere ahorros significantes de producción. La reducción del tiempo de las pruebas funcionales en IA-32 e IA-64 es posible removiendo instrucciones en la inicialización y ejecución de cada prueba. El estudio realizado en este proyecto demuestra que existen muchos casos de optimización que se pueden implementar. Para ello se desarrolló una herramienta que toma una lista de pruebas y optimiza y simula cada una usando un simulador de ensamblador. La herramienta analiza el código de ensamblador de cada prueba y determina el grupo de instrucciones que pueden ser removidas o modificadas para reducir el tiempo de ejecución. Esto se logra debido al análisis de un grupo de scripts sobre las pruebas (cada script es un caso de optimización a analizar) responsable de encontrar y reducir las instrucciones. El diseño modular de la herramienta permite agregar sin ningún problema nuevas optimizaciones que se encuentren en el futuro sin alterar las que ya están disponibles. Las optimizaciones actuales fueron tomadas de la inicialización de la prueba, la cual no genera cobertura adicional sobre el producto y en la etapa de ejecución de la misma cuidando que la cobertura no sea afectada.es_CR
dc.language.isoeses_CR
dc.subjectEnsambladores_CR
dc.subjectCobertura de erroreses_CR
dc.subjectTiempo de pruebaes_CR
dc.subjectIA-64es_CR
dc.subjectIA-32es_CR
dc.titleOptimización del tiempo de ejecución de las pruebas aplicadas a los microprocesadores IA-32 e IA-64.es_CR
dc.typelicentiateThesises_CR


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