Show simple item record

dc.contributor.authorBrenes-Quesada, Mauricioes_CR
dc.contributor.authorDel-Valle-Monge, Federicoes_CR
dc.date.accessioned2008-07-02T19:51:13Zes_CR
dc.date.accessioned2011-11-25T01:55:59Z
dc.date.available2008-07-02T19:51:13Zes_CR
dc.date.available2011-11-25T01:55:59Z
dc.date.issued2007es_CR
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/2238/309es_CR
dc.descriptionProyecto de Graduación (Licenciatura en Ingeniería Electrónica). Instituto Tecnológico de Costa Rica. Escuela de Ingeniería Electrónica, 2007.es_CR
dc.description.abstractEn el departamento Ingeniería del Producto específicamente en la plataforma de validación de ChipSets de la empresa Componentes Intel de Costa Rica no se contaba con la información suficiente para realizar un análisis del porqué se están dando ciertas fallas en la línea de producción, así como si la falla que se presentaba se debía a la máquina de pruebas o en causa propia de la unidad sometida a prueba. La principal consecuencia de que este problema no fuera resuelto es que se seguirían clasificando unidades en buen estado como unidades defectuosas. Además el origen de la falla sería una incógnita debido a la carencia de información necesaria. Finalmente el descartar unidades en buen estado hace que decaiga el índice de productividad del sitio, repercutiendo en la imagen y la confiabilidad por parte de la gerencia internacional. Los beneficios de la solución al problema planteado se notan en la confiabilidad sobre los resultados obtenidos en las pruebas, además de la retroalimentación que se obtenida al contar con información específica de la causa de la falla, de esta manera se permite tener mas eficiencia y se es mas certero a la hora de implementar las acciones correctivas al proceso. Para darle solución al problema se elaboraron una serie de diseños metodológicos de pruebas que cumplen con los requisitos estipulados para no afectar al producto y simultáneamente generar mayor información para el mantenimiento del módulo, así como acciones correctivas de algunas de las causas de error más comunes.es_CR
dc.description.sponsorshipComponentes Intel Costa Ricaes_CR
dc.format.extent2079778 byteses_CR
dc.format.mimetypeapplication/pdfes_CR
dc.language.isoeses_CR
dc.publisherInstituto Tecnológico de Costa Rica. Escuela de Ingeniería Electrónica.es_CR
dc.subjectChipsSetses_CR
dc.subjectELECes_CR
dc.subjectComponentes Inteles_CR
dc.titleMejoras a las pruebas eléctricas utilizadas en la validación de ChipSets.es_CR
dc.typelicentiateThesises_CR


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record