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dc.contributor.authorMorales-Rodriguez, Eddyes_CR
dc.date.accessioned2008-07-02T19:57:08Zes_CR
dc.date.accessioned2011-11-25T17:40:49Z
dc.date.available2008-07-02T19:57:08Zes_CR
dc.date.available2011-11-25T17:40:49Z
dc.date.issued2005es_CR
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/2238/322es_CR
dc.descriptionProyecto de Graduación (Licenciatura en Ingeniería Electrónica). Instituto Tecnológico de Costa Rica. Escuela de Ingeniería Electrónica, 2005.es_CR
dc.description.abstractEl objetivo de este proyecto consistió en estudiar los métodos y el uso de las herramientas que intervienen en el diseño de pruebas para aplicarse al microprocesador Tesla, diseñado en la Escuela de Ingeniería Electrónica del Instituto Tecnológico de Costa Rica como parte de la iniciativa de desarrollo de proyectos en el área de circuitos integrados de alta escala de integración, llevados a cabo en el laboratorio VLSI. Para esto se siguió un flujo de diseño de acuerdo a las tendencias modernas de Design-for-Test (DFT) y se utilizaron las herramientas destinadas para este fin de la compañia Mentor Graphics. También se requería que las herramientas quedaran listas para su uso y que se dejara un procedimiento básico a seguir para aplicar a futuros proyectos de diseño.es_CR
dc.format.extent2089867 byteses_CR
dc.format.mimetypeapplication/pdfes_CR
dc.language.isoeses_CR
dc.publisherInstituto Tecnológico de Costa Rica. Escuela de Ingeniería Electrónica.es_CR
dc.subjectMicroprocesadoreses_CR
dc.subjectCircuitos integradoses_CR
dc.subjectELECes_CR
dc.subjectDesign-for-testes_CR
dc.subjectDFTes_CR
dc.subjectFlujo de diseño digitales_CR
dc.subjectVLSIes_CR
dc.titleDiseño de las estructuras de prueba para un microprocesador RISC de 32 bits.es_CR
dc.typelicentiateThesises_CR


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