Sistema automatizado de medición del espesor de flux en el ensamble de microprocesadores.

Abstract

En la fabricación de microprocesadores debe utilizarse una pasta llamada flux la cual libera de contaminantes los puntos de unión entre el dado de silicio y el sustrato, además de facilitar su conexión. Para el control de calidad del proceso es necesario detectar si existe un faltante o exceso de flux aplicado sobre los sustratos, por lo que frecuentemente se le realizan mediciones de espesor. Estas mediciones deberían ser reportadas con datos verdaderos. El método utilizado en la actualidad para la medición del espesor de flux no es confiable debido a que permite al operario manipular los datos obtenidos, realizar la medición en el lugar no adecuado o asignar valores sin ni siquiera adquirir los datos. Es por lo anterior que surge este proyecto el cual pretende disminuir los procedimientos manuales de verificación del espesor del flux, que permita realizar la tarea de la medición de una forma confiable. Para ello, se propone desarrollar un control automático por medio de un motor y sensores que fije la posición para realizar la medición, y un sistema que permita adquirir los datos de la medición, los muestre a través de una interfaz gráfica, cree una base de datos y presente los resultados.