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dc.contributor.authorBenavides-Rojas, Jose Ignacioes_CR
dc.date.accessioned2008-07-02T19:43:22Zes_CR
dc.date.accessioned2011-11-25T01:54:56Z
dc.date.available2008-07-02T19:43:22Zes_CR
dc.date.available2011-11-25T01:54:56Z
dc.date.issued2006es_CR
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/2238/287es_CR
dc.descriptionProyecto de Graduación (Licenciatura en Ingeniería Electrónica) Instituto Tecnológico de Costa Rica, Escuela de Ingeniería Electrónica, 2006.es_CR
dc.description.abstractEn la fabricación de microprocesadores debe utilizarse una pasta llamada flux la cual libera de contaminantes los puntos de unión entre el dado de silicio y el sustrato, además de facilitar su conexión. Para el control de calidad del proceso es necesario detectar si existe un faltante o exceso de flux aplicado sobre los sustratos, por lo que frecuentemente se le realizan mediciones de espesor. Estas mediciones deberían ser reportadas con datos verdaderos. El método utilizado en la actualidad para la medición del espesor de flux no es confiable debido a que permite al operario manipular los datos obtenidos, realizar la medición en el lugar no adecuado o asignar valores sin ni siquiera adquirir los datos. Es por lo anterior que surge este proyecto el cual pretende disminuir los procedimientos manuales de verificación del espesor del flux, que permita realizar la tarea de la medición de una forma confiable. Para ello, se propone desarrollar un control automático por medio de un motor y sensores que fije la posición para realizar la medición, y un sistema que permita adquirir los datos de la medición, los muestre a través de una interfaz gráfica, cree una base de datos y presente los resultados.es_CR
dc.format.extent3621771 byteses_CR
dc.format.mimetypeapplication/pdfes_CR
dc.language.isoeses_CR
dc.publisherInstituto Tecnológico de Costa Rica. Escuela de Ingeniería Electrónica.es_CR
dc.subjectAutomatizaciónes_CR
dc.subjectInterfaz gráficaes_CR
dc.subjectCódigo de barrases_CR
dc.subjectPotenciaes_CR
dc.subjectBases de datoses_CR
dc.subjectAmplificadores operacionaleses_CR
dc.subjectMedición de espesores_CR
dc.subjectGPBIes_CR
dc.subjectControl de posiciónes_CR
dc.subjectMotoreses_CR
dc.subjectPotenciómetroes_CR
dc.subjectLabviewes_CR
dc.subjectTarjeta de adquisición de datoses_CR
dc.subjectELECes_CR
dc.titleSistema automatizado de medición del espesor de flux en el ensamble de microprocesadores.es_CR
dc.typelicentiateThesises_CR


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